在備考軟考的時(shí)候，刷題是比較有效的方法，因?yàn)樗㈩}可以加深對(duì)知識(shí)的理解和記憶，讓大家熟悉考試題型和出題思路。同時(shí)，刷題可以提高我們的解題技巧和應(yīng)試能力。

以下經(jīng)典試題，等你來(lái)挑戰(zhàn)！

選擇題：軟件開(kāi)發(fā)中，由編碼人員自己寫代碼來(lái)驗(yàn)證功能模塊的測(cè)試是(        )。

A:單元測(cè)試

B:集成測(cè)試

C:系統(tǒng)測(cè)試

D:黑盒測(cè)試

答案:A

解析:

本題考查V模型知識(shí)，出自《系統(tǒng)集成項(xiàng)目管理工程師教程(第2版)》第4章項(xiàng)目管理一般知識(shí)4.4典型的信息系統(tǒng)項(xiàng)目的生命周期模型。

(1)單元測(cè)試的主要目的是針對(duì)編碼過(guò)程中可能存在的各種錯(cuò)誤，例如用戶輸入驗(yàn)證過(guò)程中的邊界值的錯(cuò)誤。

(2)集成測(cè)試主要目的是針對(duì)詳細(xì)設(shè)計(jì)中可能存在的問(wèn)題，尤其是檢查各單元與其他程序部分之間的接口上可能存在的錯(cuò)誤。

(3)系統(tǒng)測(cè)試主要針對(duì)概要設(shè)計(jì)，檢查系統(tǒng)作為一個(gè)整體是否有效地得到運(yùn)行，例如在產(chǎn)品設(shè)置中是否能達(dá)到預(yù)期的高性能。

(4)黑盒測(cè)試也稱為功能測(cè)試，主要用于集成測(cè)試、確認(rèn)測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試中。黑盒測(cè)試將程序看作是一個(gè)不透明的黑盒，完全不考慮(或不了解)程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和處理算法，而只檢查程序功能是否能按照SRS 的要求正常使用，程序是否能適當(dāng)?shù)亟邮蛰斎霐?shù)據(jù)并產(chǎn)生正確的輸出信息，程序運(yùn)行過(guò)程中能否保持外部信息(例如，文件和數(shù)據(jù)庫(kù)等)的完整性等。

通過(guò)反復(fù)練習(xí)，我們可以熟悉各類題型的解題思路和解題技巧，提高解題速度和準(zhǔn)確性，增強(qiáng)應(yīng)試能力，從而在軟考中取得更好的成績(jī)。

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