2023年首都經(jīng)濟(jì)貿(mào)易大學(xué)應(yīng)用統(tǒng)計專業(yè)考研統(tǒng)計學(xué)科目考試大綱

2023年首都經(jīng)濟(jì)貿(mào)易大學(xué)應(yīng)用統(tǒng)計專業(yè)考研統(tǒng)計學(xué)科目考試大綱

第一部分 考試說明

一、考試目的

本課程以理解統(tǒng)計思想為根本、講授現(xiàn)代統(tǒng)計方法為手段，以使學(xué)生掌握收集、分析、解釋數(shù)據(jù)等統(tǒng)計方法為目的。該考試科目主要考察考生是否扎實掌握統(tǒng)計學(xué)中的基本概念、基本原理、基本技能，正確體會和理解統(tǒng)計學(xué)的基本思想。注重考查考生應(yīng)用統(tǒng)計學(xué)的知識和技能分析問題的能力。

二、考試范圍

統(tǒng)計學(xué)的概念、統(tǒng)計數(shù)據(jù)、統(tǒng)計調(diào)查、數(shù)據(jù)的統(tǒng)計描述及展示、抽樣分布、參數(shù)估計、假設(shè)檢驗、方差分析、相關(guān)分析、回歸分析、主成分與因子分析、列聯(lián)分析、聚類分析、時間序列與預(yù)測。

三、考試基本要求

掌握統(tǒng)計學(xué)基本概念、理解考試范圍內(nèi)各種統(tǒng)計方法的統(tǒng)計思想及統(tǒng)計軟件的實現(xiàn)，能夠應(yīng)用所學(xué)統(tǒng)計知識分析實際問題。

四、考試形式與試卷結(jié)構(gòu)

(一)答卷方式：閉卷，筆試

(二)答題時間：180分鐘

(三)滿分：150分

(四)各部分內(nèi)容考查比例：

統(tǒng)計學(xué)基本概念，占30%-40%;統(tǒng)計學(xué)基本方法及其統(tǒng)計思想，占40%-50%;應(yīng)用統(tǒng)計知識分析實際問題，占比10%-20%。

掌握的部分：60%

需要熟悉的部分：20%-30%

需要了解的部分：10%-20%

(五)題型及分值

考試題型主要有名詞解釋、簡答題、計算分析題、論述題，其中名詞解釋20分，簡答題40分，計算分析題60分，論述題30分。

五、參考書目(可以不指定參考書目，但大綱內(nèi)容須足夠詳盡)

(1)馬立平，張玉春，統(tǒng)計學(xué)原理，電子工業(yè)出版社，2018.

(2)賈俊平，何曉群，金勇進(jìn)，統(tǒng)計學(xué)(第6版)，中國人民大學(xué)出版社，2015.

第二部分 考試內(nèi)容

(一) 統(tǒng)計學(xué)與統(tǒng)計數(shù)據(jù)

考試內(nèi)容：統(tǒng)計學(xué)的性質(zhì)、研究對象;數(shù)據(jù)的計量尺度;數(shù)據(jù)的類型;.統(tǒng)計規(guī)律

考試要求：了解統(tǒng)計學(xué)產(chǎn)生與發(fā)展的歷程和統(tǒng)計學(xué)的研究方法;理解統(tǒng)計學(xué)的研究對象;掌握和應(yīng)用統(tǒng)計數(shù)據(jù)的計量尺度和統(tǒng)計數(shù)據(jù)的類型。

(二) 統(tǒng)計數(shù)據(jù)收集的方法與數(shù)據(jù)質(zhì)量

考試內(nèi)容：數(shù)據(jù)的間接來源;.數(shù)據(jù)的直接來源;抽樣調(diào)查;普查;問卷設(shè)計;統(tǒng)計數(shù)據(jù)的誤差。

考試要求：了解數(shù)據(jù)的兩個來源，理解問卷編制的基本技術(shù)，掌握數(shù)據(jù)的誤差，能夠針對一定的問題編制調(diào)查問卷。

(三) 數(shù)據(jù)的圖標(biāo)展示

考試內(nèi)容：統(tǒng)計分組;定性數(shù)據(jù)的頻數(shù)分布表;定性數(shù)據(jù)的統(tǒng)計圖示;定量數(shù)據(jù)的頻數(shù)分布表;定量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計圖示。

考試要求：了解定性數(shù)據(jù)的圖表制作，定量數(shù)據(jù)的分組、不同圖表的制作、理解，圖表的應(yīng)用范圍，掌握不同類型數(shù)據(jù)的圖表的使用，能正確運(yùn)用統(tǒng)計圖表分析實際問題。

(四) 數(shù)據(jù)的統(tǒng)計量描述

考試內(nèi)容：集中趨勢的測度;平均數(shù);中位數(shù);眾數(shù);算術(shù)平均數(shù)、中位數(shù)和眾數(shù)的關(guān)系;數(shù)據(jù)離散程度的測度;極差與四分位差;方差與標(biāo)準(zhǔn)差;離散系數(shù)。

考試要求：了解各統(tǒng)計量的概念、計算公式等，理解各概念間的關(guān)系，掌握不同的計算公式使用，能正確運(yùn)用所學(xué)統(tǒng)計量分析問題。

(五) 概率抽樣與抽樣分布

考試內(nèi)容： 概率抽樣的基本概念;簡單隨機(jī)抽樣;分層抽樣;等距抽樣;整群抽樣;多階段抽樣;總體分布;樣本分布;抽樣分布;中心極限定理;樣本均值的抽樣分布;樣本比例的抽樣分布; 分布; 分布; 分布。

考試要求：掌握各種抽樣調(diào)查、抽樣分布和均值抽樣分布，理解主要的幾種抽樣分布的形式。

(六) 參數(shù)估計

考試內(nèi)容：抽樣推斷及其基本概念;評價估計量的標(biāo)準(zhǔn);點估計與區(qū)間估計;參數(shù)估計的原理;一個總體均值的區(qū)間估計;一個總體比例的區(qū)間估計;兩個總體均值之差的區(qū)間估計;兩個總體比例之差的區(qū)間估計;樣本量的確定。

考試要求：了解估計量、估計值的基本概念，準(zhǔn)確理解置信區(qū)間、置信水平的概念，理解參數(shù)估計的基本思路，掌握不同參數(shù)的估計方法和樣本容量的確定方法，能正確運(yùn)用參數(shù)估計的方法分析實際問題。能夠掌握基本統(tǒng)計軟件的參數(shù)估計操作方法。

(七) 假設(shè)檢驗

考試內(nèi)容： 假設(shè)檢驗的基本概念;假設(shè)檢驗的基本步驟;假設(shè)檢驗的兩類錯誤;假設(shè)檢驗結(jié)論的準(zhǔn)確解讀;總體均值的假設(shè)檢驗;總體比例的假設(shè)檢驗;兩個總體均值之差的檢驗;兩個總體比例之差的假設(shè)檢驗。

考試要求：了解假設(shè)檢驗的基本思路，掌握不同參數(shù)的檢驗方法，能正確運(yùn)用參數(shù)假設(shè)檢驗的方法分析實際問題。能夠掌握基本統(tǒng)計軟件的假設(shè)檢驗操作方法。

(八) 方差分析

考試內(nèi)容：方差分析的原理;方差分析的基本概念;方差分析的種類;方差分析的結(jié)果解釋;多因子方差分析。

考試要求：理解方差分析的基本思路，掌握單因素、雙因素方差分析的基本方法，能正確運(yùn)用方差分析的方法分析實際問題。能夠掌握基本統(tǒng)計軟件的方差分析操作方法。

(九) 相關(guān)與回歸分析

考試內(nèi)容：相關(guān)關(guān)系;Pearson相關(guān)系數(shù);Spearman秩相關(guān)系數(shù);Kendall相關(guān)系數(shù);線性回歸模型;模型參數(shù)估計;回歸系數(shù)的含義;回歸方程的評價與檢驗;利用回歸方程進(jìn)行預(yù)測。

考試要求：理解各種相關(guān)系數(shù)的適用場合，理解最小平方法的基本思路，掌握回歸方程的估計方法、檢驗方法和評價方法，能正確運(yùn)用相關(guān)與回歸分析的方法分析實際問題。能夠掌握基本統(tǒng)計軟件的相關(guān)與回歸分析操作方法。

(十) 列聯(lián)分析與聚類分析

考試內(nèi)容：列聯(lián)表的分析基本原理;卡方分布;卡方檢驗;列聯(lián)表中的相關(guān)測量;卡方分布的期望值準(zhǔn)則;聚類分析的基本思想;聚類的兩種類型：R型聚類和Q型聚類;點間距離的幾種度量方法：歐式距離、統(tǒng)計距離、相似系數(shù)的含義及計算方法;K均值聚類法的方法;分層聚類的方法。

考試要求：了解各種距離的設(shè)計，理解列聯(lián)分析的適用場合，掌握列聯(lián)分析和聚類分析的操作方法，能正確運(yùn)用列聯(lián)分析和聚類分析的方法分析實際問題。

(十一) 時間序列分析與預(yù)測

考試內(nèi)容：時間序列及其基本種類;時間序列的動態(tài)分析指標(biāo);時間數(shù)列的構(gòu)成要素;長期趨勢、季節(jié)變動、循環(huán)變動、隨機(jī)變動;時間數(shù)列的修勻;長期趨勢模型的建立;季節(jié)指數(shù)的計算。

考試要求：了解時間序列的概念及其構(gòu)成要素，理解時間序列的各種動態(tài)分析指標(biāo)，掌握時間序列的長期趨勢分析方法和季節(jié)指數(shù)的計算。

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